各位关注SSD的话,相比还记得此前我们介绍过IDF2012大会上,英特尔推出的PCI-E固态盘910系列产品。此次,我们将为大家重点介绍容量为800GB的SSD 910产品。
SSD 910架构图
“性能模式”是英特尔Data Center Tool软件中的一个内置功能,不过该功能只能在800GB容量的SSD上实现。400GB的SSD 910模式为“always”性能模式,因为在标准的PCIe 25瓦规格下就可以实现全速运行。800GB版本的拥有额外组件可以实现在25瓦功耗下运行从而支持其默认模式。将800GB的默认模式转换到性能模式,其功耗也会相应增加到38瓦。
英特尔PCI-E SSD(800GB)
局部特写
图片中展示的4个铝电解电容器,属于“V”类“FK”系列。每个都为330uF,而且看起来好像每个都有功率变频电路设计。这四个电容器,也就是相当于每个电容器负责驱动一个200GB SAS SSD单元。
在对该SSD进行拆解之前,让我们先来看看其侧面。该效果与我们此前在IDF2012展会上看到的一样。
侧面俯视
被拆解后的SSD 910(800GB)
最上面两个PCB(Printed Circuit Board,印制电路板)主要包含闪存芯片,底下的PCB则拥有4个SAS SSD控制器和LSI SAS HBA(主机总线适配器,隐藏在散热器下面)。
SAS 控制器
从上图中我们可以看到,每个SAS控制器都有同等的DDR RAM(图片右下角),而LSI HBA占据面积比SAS控制器略小(图片左侧)。
连接器
负责将每个闪存PCB传输到主板的这些连接器也十分牢固,做工精良,用料足。
PCB背面
最后,我们再来看下这三块PCB背面。从图片中我们可以发现,控制器的功率切换器和RAM并排在板子的底下,而那些更大些的LSI SAS HBA估计则被设计在板子的中间位置。
读写性能测试
在对英特尔PCI-E接口的SSD 910的外观有了初步认识之后,接下来我们就来看看这个产品的性能测试。
测试实验环境
当测试诸如SSD 910系列产品的高IOPS设备的时候,特别需要注意试验台不能杂乱不堪,避免有其他设备的干扰。此次测试采用了Sandy Bridge集成图形处理能力的平台架构,从而为SSD 910尽量节省所有可能的带宽资源。
测试环境
首先我们进行ATTO测试。Windows下的4个SCSI逻辑单元编号也就意味着Dynamic Disk(软件)RAID。由于没办法对条带进行设定,因此 我们只能使用事先定义的64k进行测试。
ATTO测试结果
在连续模式下也仅仅是高于1.5GB/S的写入、低于2GB/s的读取速度。而在4K-64K区域性能表现貌似稍逊于主流PCIe SSD。这可能是因为尝试将4个LUN逻辑单元号与Windows RAID相连。
随机写入速度惊人
下面,我们给出只针对一个200GB逻辑单元号进行ATTO测试的参考数据:
单个200GB下的测试结果
我们需要注意的是,当Windows RAID还算空闲的时候,较低的transfer sizes下性能表现缓慢爬升。而且,从以上这两次ATTO运行数据来看,在小于4K的时候基于日立控制器的写入性能较差。下面,我们来看看IOMeter测试结果。
不同配置下IOPS值(性能模式)
首先,上图展示的是LSI HBA分别处理SSD IOPS的数值,我们可以看到随着更多LUN的增加,读写性能呈现出一种线性的增长趋势,IOMeter同时直接访问这四个设备,绕过了Windows RAID。
紧接着,混合工作负载(同时读取和写入)性能要逊于单独读或写的性能,尽管这是预期之中的局面,但反差之大有点令人始料不及。
最后,你会发现上面的写入测试数据是斜体显示的,这是刚开始大量使用SSD的时候的数据。为了更好的说明这款SSD的性能,下面再对其进行4K随机写入测试:
随机写入测试
从测试结果可以看出,4K随机写入测出来的IOPS值远超英特尔所标称的75K,而且这是在连续写入的情况下得到的数据。结合英特尔的HET-MLC闪存技术,在扩充10倍容量的基础上还能满足日常使用长达5年时间之久,可以说这款产品非常彪悍。